SELECT SERIES Cyclic IMS

SELECT SERIES Cyclic IMS

無限可能，無盡研究。

無限可能，無盡研究。

SELECT SERIES Cyclic IMS藉由緊密結合新穎的環狀離子遷移分離技術與先進的高效能飛行時間質譜儀，讓頂尖研究人員充分發掘科學研發的潛力。

SELECT SERIES Cyclic IMS能按質量和遷移率選擇離子，這是環狀離子遷移(cIM)獨特的卓越功能，為學術界及業界的研究帶來無可比擬的彈性與功能。借助離子遷移和質譜分析，您可以按形狀及m/z分離異構物、量測離子的碰撞截面(CCS)，獲得更清楚的質譜數據。

SELECT SERIES Cyclic IMS SELECT SERIES Cyclic IMS

概述

  • 結合環狀離子遷移(cIM)分離技術與ToF質譜儀
  • 發揮一流的離子遷移解析度，分離能力更勝以往，完全可信賴
  • 執行獨一無二的IMSn實驗，增加選擇性也提升表徵分析效能
  • 能夠在遷移之前選擇質量，也能按遷移率選擇前驅物離子和產物離子
  • 提供三種獨特的碎裂區域，能提高實驗靈活度，以利解決複雜的問題

建議用途：鑑定和快速監測化學反應中的共析異構代謝物

特色標題

特色標題

運用一流的離子遷移解析度帶來更多發現

得益於儀器設計和控制軟體，這項技術可進行一系列實驗，包括擷取Tof數據、單程離子遷移，還能依據樣品複雜程度調節遷移解析度。隨著遷移裝置的長度增加，離子的行程次數自然也會增加，離子遷移解析度也會提高。

在科學藥物研究領域盡情發揮潛力

SELECT SERIES Cyclic IMS採用獨特的儀器設計，有利於進行諸如IMSn分離之類的進階離子遷移實驗。IMSn分離可擴展特定遷移範圍的解析度，例如特定種類的離子。噴出（不擷取）所需遷移範圍之外的離子，將剩餘離子留在cIM中繼續分離過程。這種「微調」方法可以進行多次，例如用於提高所選離子的特異性，或防止在cIM中發生「重疊」現象，也就是在多重通過實驗中，高遷移率離子趕上低遷移率離子的現象。您可以在一個多重通過的LC-MS方法中，定義通過次數不同的多個循環序列，減少對同一樣品多次進樣的需求，提高生產力。

執行高階結構表徵分析

IMSn活化是高階結構表徵分析的理想選擇。在遷移分離期間，切除遷移分離過的離子片段，並將離子送至陣列前貯存裝置。噴出不需要的離子，貯存的離子會在要求的碰撞誘發活化/解離條件下，重新注入陣列中，然後執行遷移分離。產物離子可以被送到Tof進行偵測，或者透過獨特的IMSn能力多進行幾輪遷移選擇。

使用DESI XS和Cyclic IMS進行影像質譜分析

DESI XS與SELECT SERIES Cyclic IMS的獨特結合，為MS成像方法提供更高程度的專屬性。DESI XS可對整個組織樣品表面上各種分析物（例如小分子藥物、代謝物和脂質）的空間分布產生直觀視圖，Cyclic IMS的獨特功能和擷取模式可全面深入分析將執行的實驗。

提高靈敏度，讓您對實驗結果更有信心

SELECT SERIES Cyclic IMS採用了最新的ToF技術，與新穎的環狀離子遷移功能相輔相成，讓您的數據有十足的可信度。XS傳輸裝置保有離子遷移分離的準確度，同時調節離子束，以達到絕對理想的飛行時間效能。全新的補償式oa-Tof採用雙增益偵測系統，靈敏度更高、解析度>100,000 (FWHM)，精確質量量測結果可靠準確(低ppm)，且動態範圍更寬。

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