新技術提供尖端效能

憑藉源自Waters先進質譜精選系列的技術組成結構，內建先進的創新技術，確保科學家使用配有尖端質譜儀（即SYNAPT）的平台，同時還可保有易用性和既定的獨特工作流程。

StepWave^TM XS
重新設計的分段式四極桿離軸離子源組件，為具有挑戰性的化合物提供更大的靈敏度，同時進一步改善分析的穩定程度。

Extended ToF
即便是最複雜的樣品，也能提供符合UPLC標準的質量解析度、適合各種基質的動態範圍及定量結果，同時為先前的SYNAPT型號提供卓越的規格。

SONAR和HDMS^E提供了獨特的工具組以審視複雜的混合物

完善的分析策略需要結合適當的互補技術才能看得更遠。透過SYNAPT XS上基於SONAR和IMS的數據獨立擷取(DIA)操作模式，研發分析人員能藉由互補機制，透過獨特的角度審視複雜混合物。兩種類型的數據擷取方式皆提高了分析峰容量，根據不同的分子特性提供「清晰明瞭」的碎片數據。我們提供了真正獨特的研究工具組，用於深入審視複雜的混合物。

離子遷移和CCS測量

傳統質譜儀依據m/z分離不同成分。SYNAPT XS還允許在離子遷移實驗期間，使用分子大小、形狀和電荷作為其碰撞截面(CCS)的函數，對分子進行分離。  除離子遷移能提供額外的解析度，增加峰容量和分析選擇性外，CCS量測也能提供額外的分子識別碼。離子CCS的測量可用於協助確認離子特性或研究其結構。運用離子遷移能顯著提高科學家分析複雜混合物和複雜分子的程度和信心，並可大幅精進樣品的定義。

CID和ETD碎裂功能

有雙碰撞區的TriWave可進行碰撞誘發解離(CID)及/或電子轉移解離(ETD)碎裂，具有高解析度和質量準確度，能夠拓展MS/MS能力。  解析四極桿提供4 KDa、8 KDa或32 KDa質量範圍選項，適合從小分子到大分子的MS/MS分析。

TAP碎裂

時間對齊並行(Time aligned parallel, TAP)碎裂是T-Wave IMS設計特有的擷取模式。它允許使用者利用TriWave設定，讓IMS前和IMS後的T-Wave作為兩個獨立的碰撞槽運作。由此產生的CID-IMS-CID儀器操作能提供非常可靠的成分結構特性分析。與傳統的MSⁿ或MS/MS技術相比，TAP碎裂透過優異的碎片離子覆蓋率、靈敏度和準確度，為建立完整結構提供了獨特的優勢。