降低在DMPK分析中遗漏代谢物的风险
Vion IMS QTof具有集成的离子淌度功能,可提供更强的分离能力,生成更清晰的数据并且大大降低药物代谢物遗漏的可能性。 借助支持离子淌度的非数据依赖性采集,Vion可提供高质量MS/MS子离子光谱,无需进行额外的MS/MS或数据依赖性采集(DDA)。 这样能够减少分析时间,快速鉴定代谢物。利用离子淌度分离(IMS)数据生成的碰撞截面(CCS)值可用于在整个研发过程中跟踪和确认代谢物,对于无法通过色谱分析区分的异构体代谢物尤为有用。 这些功能与UNIFI软件中的代谢物ID工作流程相结合,旨在简化和加快代谢数据的采集和解释流程。了解更多信息。