SELECT SERIES Cyclic IMS

SELECT SERIES Cyclic IMS

끝없는 가능성. 무한한 연구.

끝없는 가능성. 무한한 연구.

집중적인 협업을 통해 개발된 SELECT SERIES Cyclic IMS는 새로운 Cyclic Ion Mobility 분리와 첨단 고성능 ToF 질량분석 기술을 결합하여 선도적인 연구원들이 과학적 발견의 잠재력을 발휘할 수 있도록 합니다.

SELECT SERIES Cyclic IMS를 사용하면 cIM(Cyclic Ion Mobility)의 고유한 기능인 질량 및 이동도에 따라 이온을 선택할 수 있어 학계와 업계에서 모두 유연성과 역량을 크게 높일 수 있습니다. Ion Mobility 및 질량분석법을 사용하면 모양과 m/z를 이용한 분리로 이성질체를 분리하고, 이온의 충돌 단면적(CCS)을 측정하며, 훨씬 깔끔한 질량 스펙트럼 데이터를 얻을 수 있습니다.

SELECT SERIES Cyclic IMS SELECT SERIES Cyclic IMS

개요

  • cIM(Cyclic Ion Mobility) 분리와 ToF 질량분석법의 결합
  • 높은 수준의 Ion Mobility 분리능으로 그 어느 때보다 분리능을 개선하여 신뢰도 보장
  • 고유한 IMSn 실험 수행으로 선택성과 고급 특성화(Characterization) 실현
  • 사전 이동성 질량 선택과 전구체와 생성물 이온의 이동도 선택 가능
  • 3개의 서로 다른 조각화 영역으로 실험 유연성을 높여 복잡한 문제 해결

권장 용도: 화학 반응에서 동시 용리, 이성질체 대사산물을 식별하고 신속하게 모니터링합니다.

기능 헤더

기능 헤더

높은 Ion Mobility 분리능으로 더 많은 것을 발견

기기 디자인과 제어 소프트웨어로 Tof 데이터 수집, 싱글 패스 Ion Mobility 등 다양한 실험이 가능하며 샘플의 복잡성에 맞춰 Mobility 분리능을 확장할 수도 있습니다. Ion Mobility 분리능은 Mobility 장치의 길이와 패스 횟수에 비례해 증가합니다.

과학적 발견의 잠재력 실현

SELECT SERIES Cyclic IMS는 독특한 기기 설계를 통해 IMSn 분리와 같은 첨단 Ion Mobility 실험을 원활하게 지원합니다. IMSn 분리는 특정 이동도 범위(예: 특정 종의 이온)의 분리능을 확장합니다. 원하는 이동도 범위 외부의 이온을 방출(획득하지 않음)하고 cIM에 잔류 종을 남겨 분리 프로세스를 계속합니다. 이 같은 'Trimming' 방식은 무수히 시행할 수 있으며 이것으로 예컨대 선택된 이온의 특이성을 높이거나 멀티 패스 실험에서 이동도가 높은 이온이 이동도가 낮은 이온을 따라잡는 "Wrap-around" 현상을 없앨 수 있습니다. 서로 다른 패스 수의 여러 순환 시퀀스를 하나의 멀티 패스 LC-MS 분석법으로 정의할 수 있으므로 동일한 시료를 여러 번 주입해야 하는 필요성을 줄여 생산성을 높일 수 있습니다.

고급 구조 특성화 수행

IMSn 활성화는 고급 구조 특성화에 이상적입니다. 이동도 분리 중에 이동도 분리 종의 단편을 절제하고 이온을 사전 어레이 저장 장치로 보냅니다. 원하지 않는 이온은 방출되고 저장된 이온은 필요에 따라 충돌 유도 활성화/해리 조건 하에서 어레이에 다시 주입되고 후속 이동도 분리가 이루어집니다. 그런 다음 생성물 이온이 검출을 위해 Tof로 보내지거나 고유한 IMSn 기능을 제공하는 추가 이동도 선택 단계를 거칠 수 있습니다.

DESI XS와 Cyclic IMS를 통한 이미징 질량분석기

DESI XS와 SELECT SERIES Cyclic IMS의 절묘한 조합으로 MS 이미징 방식의 선택성이 획기적으로 개선되었습니다. DESI XS는 저분자 약물, 대사물질, 조직 샘플 표면의 지질 등 여러 가지 분석물질의 위치 분포를 맵 형태로 보여줍니다. Cyclic IMS만의 수집 능력과 모드를 이용하면 포괄적으로 심도 있는 실험을 실시할 수 있습니다.

감도 증가로 발견한 결과에 대한 확신 제공

SELECT SERIES Cyclic IMS는 최신 ToF 기술을 탑재하여 최신 cIM의 기능을 보완하고 데이터에 대한 완벽한 신뢰성을 보장하고 있습니다. XS 이송 장치는 Ion Mobility 분리의 정확성을 유지하는 한편 최적의 Tof 성능 확보를 위해 이온 빔을 동시에 컨디셔닝합니다. 듀얼 게인 검출 시스템을 겸비한 최신 오프셋 oa-Tof가 감도 향상과 100,000(FWHM) 이상 분리능, 안정적이고 정확한 질량 측정(저 ppm), 다이내믹 레인지(dynamic range) 개선을 실현합니다.

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