SYNAPT XS
SYNAPT XS
灵活非凡，探索无限
灵活非凡，探索无限
SYNAPT XS
概述
- 适配多种色谱入口，高度灵活，支持多种应用
- DIA模式SONAR、MSE和HDMSE可采集每种可检测组分的碎片离子信息，用于明确确认化合物鉴定结果
- 在包括DDA在内的所有采集模式下，从高度复杂的样品中生成丰富的碎片数据
- 借助多种成像技术和随附的高清成像(HDI)软件，简化和精简质谱成像工作流程，并提供多层次、信息丰富的数据
- 凭借可靠的鉴定结果、完整质量数分析和出色的重现性，可自动化测定高级结构
- 互补的碎裂技术具有高分辨率和精确的质量数测量性能，有助于发挥MS/MS的更多潜能
推荐用途：仅需在一台离子淌度飞行时间质谱仪上整合互补的工作流程，即可获得高度灵活的多种离子源和采集模式，进行更深入的探索。
功能标题
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创新技术带来出众性能
凭借沃特世高级质谱“SELECT SERIES”传承下来的技术基石，内置先进的创新技术，确保使用该平台的科学家始终处于质谱分析前沿，同时维持SYNAPT的易用性和成熟的客户端工作流程。
- StepWave XS - 采用重新设计的分段四极杆传输光学元件，可提高分析棘手化合物时的灵敏度，并进一步改善分析稳定性。
- Extended ToF - 针对非常复杂的样品，提供兼容UPLC的质量分辨率、耐受各种基质的动态范围和定量分析结果，同时提供相较既往SYNAPT模式更为出色的性能指标。
使用独特的工具包解析复杂混合物
完整的分析策略需要结合适当的互补技术才能得到更全面的数据信息。借助SYNAPT XS上基于SONAR和IMS的数据非依赖型采集(DIA)操作模式，分析人员能够利用互补机制，以一种创新的方式解析复杂混合物。两种采集模式都能提高分析峰容量，提供“干净、清晰”的碎片离子数据，但这些数据基于不同的分子特性。这是一套实实在在的创新研究工具包，适用于深入解析复杂混合物。
借助离子淌度和CSS测量探索更多信息
传统质谱仪基于m/z分离组分。SYNAPT XS还支持在离子淌度实验中，使用分子大小、形状和电荷作为其碰撞截面(CCS)的函数，对分子进行分离。除离子淌度能提供额外的分离维度、增加峰容量和分析选择性以外，CCS测量还可提供额外的分子标识。离子CCS的测量结果有助于确定离子名称或研究其结构。科学家们已经通过离子淌度技术大幅提升了分析复杂混合物和复杂分子的范围和可信度。
实现非常可靠的组分结构表征
时间校准平行(TAP)碎裂是T-Wave IMS设计所独有的采集模式。用户可以在该模式下利用TriWave配置，将IMS前T-Wave和IMS后T-Wave作为两个单独的碰撞室运行。因此，通过操作CID-IMS-CID仪器获得的组分结构表征结果具有非常高的可靠性。与传统MSn或MS/MS技术相比，TAP碎裂具备出色的碎片离子覆盖率、灵敏度和准确性，在建立完整结构方面有着不容置疑的优势。
